产品介绍

设备用于测试边发射巴条半导体激光芯片的参数性能，包含LIV测试、光谱测试、远场发散角度测试等功能测试，可以全面的测量或演算出工作电流I_o、输出光功率P_o、斜率效率SE、串联电阻Rs、阈值电流Ith、中心波长λc、光谱宽度Δλ、扭折电流Ikink、扭折功率Pkink、均方根RMS、边模抑制比SMSR等参数。
 
特点
-功能模块化设计，按需选配
-人工上料，装载简单
-自动化设计，自动完成校正，工业视觉识别定位
-二线法/四线法测量

-CCD远场角度测试法
-测量精度高，性能稳定
-智能化设计、下料分选、自主设定判定条件、自动完成测试过程并打印报告

应用
边发射激光器芯片BAR条的综合性能测试